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  • RT RC-04分辨率測(cè)試卡
    RT RC-04分辨率測(cè)試卡

    RC-04分辨率測(cè)試卡是一種用于設(shè)置和測(cè)試微焦 X 射線系統(tǒng)的光刻生產(chǎn)的測(cè)試模式。它支持 0.1 µm 和 10 µm 之間的分辨率,對(duì)應(yīng)于 0.2 µm 和 20 µm 之間的焦斑尺寸。

    更新時(shí)間:2025-06-30
  • RT RC-05B分辨率測(cè)試卡
    RT RC-05B分辨率測(cè)試卡

    分辨率測(cè)試卡是一款采用半導(dǎo)體光刻技術(shù)制作的微型測(cè)試卡。它用于校準(zhǔn)和監(jiān)控系統(tǒng)分辨率,確保微焦點(diǎn)或納米焦點(diǎn)X射線檢測(cè)系統(tǒng)獲得高質(zhì)量的結(jié)果。

    更新時(shí)間:2026-04-16
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