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JIMA RT RC-05B分辨率測(cè)試卡

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 更新時(shí)間:2026-04-16

簡(jiǎn)要描述:,JIMA RT RC-05B分辨率測(cè)試卡IMA RT RC-05B是一款采用最新半導(dǎo)體光刻技術(shù)制作的微型分辨率測(cè)試卡

產(chǎn)品詳情
品牌日本JIMA產(chǎn)地進(jìn)口

JIMA RT RC-05B是一款采用最新半導(dǎo)體光刻技術(shù)制作的微型分辨率測(cè)試卡。它用于校準(zhǔn)和監(jiān)控系統(tǒng)分辨率,確保微焦點(diǎn)或納米焦點(diǎn)X射線檢測(cè)系統(tǒng)獲得高質(zhì)量的結(jié)果。JIMA RT RC-05B支持3微米至50微米(3 µ m至50 µ m)的分辨率。這對(duì)應(yīng)于6微米和100微米(6 µ m和100 µ m)之間的焦斑尺寸。

JIMA RT RC-05B分辨率測(cè)試卡
16組I&T布局,2x2 mm,8x8 mm硅基,如上圖

下圖為尺寸為5 μm I&T的圖像

JIMA RT RC-05B分辨率測(cè)試卡

Au Slit的數(shù)量為3行和2個(gè)空格

寬度3至10 μm:T形布局

寬度15至50 μm:I形布局L/S寬度

L/S寬度:3、4、5、6、7、8、9、10、15、20、25、30、35、40、45、50 μm

JIMA RT RC-05B分辨率測(cè)試卡,JIMA分辨率測(cè)試卡實(shí)物拍攝圖:

JIMA RT RC-05B分辨率測(cè)試卡

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